【7/12更新】2022年4月1日からのCiNii ArticlesのCiNii Researchへの統合について

'Strain distribution analysis of sputter-formed strained Si by tip-enhanced Raman spectroscopy'

書誌事項

タイトル
'Strain distribution analysis of sputter-formed strained Si by tip-enhanced Raman spectroscopy'
著者
H. Hanafusa, N. Hirose, A. Kasamatsu,T. Mimura, T. Matsui, H.M.H. Chong, H.Mizuta and Y Suda

収録刊行物

関連論文

もっと見る

関連研究データ

もっと見る

関連図書・雑誌

もっと見る

関連博士論文

もっと見る

関連プロジェクト

もっと見る

関連その他成果物

もっと見る

詳細情報

  • CRID
    1010282257084410628
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
ページトップへ