【2022年1月締切】CiNii ArticlesへのCiNii Researchへの統合に伴う機関認証の移行確認について

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X線回折法で表界面・薄膜・ナノ構造で何が分かるか / Surface, thin film, and nano structural information obtained using x-ray diffraction

書誌事項

タイトル
X線回折法で表界面・薄膜・ナノ構造で何が分かるか / Surface, thin film, and nano structural information obtained using x-ray diffraction
著者
坂田修身

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詳細情報

  • CRID
    1010282257148251904
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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