【2022年1月締切】CiNii ArticlesへのCiNii Researchへの統合に伴う機関認証の移行確認について

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日本人発明者の移動と技術流出リスク-韓国企業の人材活用モデル-

書誌事項

タイトル
日本人発明者の移動と技術流出リスク-韓国企業の人材活用モデル-
著者
山内勇、枝村一磨、角山史明、隅藏 康一

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詳細情報

  • CRID
    1010282257292432642
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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