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Observation of Vacancy in Crystalline Silicon Using Low-temperature Ultrasonic Measurements

書誌事項

タイトル
Observation of Vacancy in Crystalline Silicon Using Low-temperature Ultrasonic Measurements
著者
T. Goto, H. Yamada-Kaneta, K. Sato, M. Hikin, Y. Nemoto

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詳細情報

  • CRID
    1010282257417092388
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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