CiNii Researchの本公開について

タンデム超音波探傷によるK開発溶接部の品質管理と疲労き裂検出

書誌事項

タイトル
タンデム超音波探傷によるK開発溶接部の品質管理と疲労き裂検出
著者
三木千壽, 白旗弘実, 山口亮太, 木下幸治, 柳沼安俊.

収録刊行物

被引用文献 (0)

もっと見る

参考文献 (0)

もっと見る

関連論文

もっと見る

関連研究データ

もっと見る

関連図書・雑誌

もっと見る

関連博士論文

もっと見る

関連プロジェクト

もっと見る

関連その他成果物

もっと見る

詳細情報

  • CRID
    1010282257418686367
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
ページトップへ