【2022年1月締切】CiNii ArticlesへのCiNii Researchへの統合に伴う機関認証の移行確認について

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Coherent x-ray diffraction measurements of Cu thin lines

書誌事項

タイトル
Coherent x-ray diffraction measurements of Cu thin lines
著者
Takahashi, Y ; Furukawa, H ; Kubo, H ; Yamauchi, K ; Nishino, Y ; Ishikawa, T ; Matsubara, E

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詳細情報

  • CRID
    1010282257424005120
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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