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Study on the Frequency Dependence of Lateral Energy Leakage in RF BAW Device by Fast-Scanning Laser Probe System

書誌事項

タイトル
Study on the Frequency Dependence of Lateral Energy Leakage in RF BAW Device by Fast-Scanning Laser Probe System
著者
N.Wu, K.Hashimoto, K.Kashiwa, T.Omori, M.Yamaguchi

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詳細情報

  • CRID
    1010282257442641815
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN
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