【2022年1月締切】CiNii ArticlesへのCiNii Researchへの統合に伴う機関認証の移行確認について

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Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices(Chapter 3 : Low-Power Test Generation)

書誌事項

タイトル
"Power-Aware Testing and Test Strategies for Low Power Devices(Chapter 3 : Low-Power Test Generation)"
著者
X.Wen, S.Wang
出版者
  • Springer(New York, USA)
ページ数
51

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詳細情報

  • CRID
    1020000782469395840
  • タイトル言語コード
    ja
  • データソース種別
    • KAKEN
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