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In Toxicology and Epigenetics (Sahu, S. C. ed.), John Wiley & Sons, Ltd., Hoboken, NJ

書誌事項

タイトル
"In Toxicology and Epigenetics (Sahu, S. C. ed.), John Wiley & Sons, Ltd., Hoboken, NJ"
著者
Hirabayashi, Y., Inoue, T.
出版者
  • Prediction of epigenetic and stochastic gene expression profiles of late effects after radiation exposure

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詳細情報

  • CRID
    1020282257188998016
  • タイトル言語コード
    ja
  • データソース種別
    • KAKEN
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