【7/12更新】2022年4月1日からのCiNii ArticlesのCiNii Researchへの統合について

Atomic Force Microscope (AFM) 酸化プロセスによるInAsナノ ・ デバイスの作製と評価

書誌事項

タイトル別名
  • Fabrication and Characterization of InAs Nanodevices Produced by Atomic Force Microscopic Oxidation Process

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詳細情報

  • CRID
    1050567175317055360
  • ISSN
    0375-0191
  • Web Site
    http://id.nii.ac.jp/1360/00000525/
  • 本文言語コード
    ja
  • 資料種別
    departmental bulletin paper
  • データソース種別
    • IRDB
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