【7/12更新】2022年4月1日からのCiNii ArticlesのCiNii Researchへの統合について

Multiresistance Characteristics of PCRAM With $ \hbox{Ge}_{1}\hbox{Cu}_{2}\hbox{Te}_{3}$ and $\hbox{Ge}_{2} \hbox{Sb}_{2}\hbox{Te}_{5}$ Films

収録刊行物

  • IEEE Electron Device Letters

    IEEE Electron Device Letters 33 (10), 1399-1401, 2012-10

    Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

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