Surface Blistering of Ion Irradiated SiC studied by Grazing Incidence Electron Microscopy

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Surface Blistering of Ion Irradiated SiC studied by Grazing Incidence Electron Microscopy

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010000781780053125
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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