Room-temperature-operating data processing circuit based on single-electron transfer and detection with metal-oxide-semiconductor field-effect transistor technology

  • 西口 克彦
    日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所

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タイトル
Room-temperature-operating data processing circuit based on single-electron transfer and detection with metal-oxide-semiconductor field-effect transistor technology
著者
Katsuhiko Nishiguchi

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010000781870707727
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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