Long retention of gain-cell dynamic random access memory with undoped memory node
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- 西口 克彦
- 日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所
書誌事項
- タイトル
- Long retention of gain-cell dynamic random access memory with undoped memory node
- 著者
- Katsuhiko Nishiguchi
収録刊行物
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- EEE Electron Device Letters Vol.28,No.1
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EEE Electron Device Letters Vol.28,No.1 48-50, 2007