Investigation of domain distribution in patterned PZT thin films using Raman spectroscopy
書誌事項
- タイトル
- Investigation of domain distribution in patterned PZT thin films using Raman spectroscopy
- 著者
- K.Nishida, M.Osada, S.Yokoyama, K.Takahashi, H.Funakubo, T.Katoda
収録刊行物
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- Trans.Mater.Soc.Jpn. 31(1)
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Trans.Mater.Soc.Jpn. 31(1) 27-30, 2006
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詳細情報
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- CRID
- 1010000781891487105
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- KAKEN