Quasi-Static Frictional Test between Silicon Sharp Probes with in-situ TEM Observation of Real Contact Point

書誌事項

タイトル
Quasi-Static Frictional Test between Silicon Sharp Probes with in-situ TEM Observation of Real Contact Point
著者
T.Ishida, T.Sato, S.Nabeya, H.Fujita

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詳細情報

  • CRID
    1010000782061557395
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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