Contamination-Free TEM for High-Resolution Imaging of SoftMaterials
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- 堀内 伸
- 独立行政法人産業技術総合研究所
書誌事項
- タイトル
- Contamination-Free TEM for High-Resolution Imaging of SoftMaterials
- 著者
- 堀内伸
収録刊行物
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- Microscopy Today
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Microscopy Today 83巻 517-521, 2010