Development of incident x-ray flux monitor for coherent x-ray diffraction microscopy
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- 高橋 幸生
- 大阪大学
書誌事項
- タイトル
- Development of incident x-ray flux monitor for coherent x-ray diffraction microscopy
- 著者
- 高橋幸生
収録刊行物
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- Journal of Physics : Conference Series 186
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Journal of Physics : Conference Series 186 2009