Reversible Defect Engineering of Single-Walled Carbon Nanotubes Using Scanning Tunneling Microscopy
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- 小林 慶裕
- 日本電信電話株式会社NTT物性科学基礎研究所
書誌事項
- タイトル
- Reversible Defect Engineering of Single-Walled Carbon Nanotubes Using Scanning Tunneling Microscopy
- 著者
- Maxime Berthe
収録刊行物
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- Nanoletters 7
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Nanoletters 7 3623-362, 2007