First-principles study on electronic structures and dielectric properties of Si/SiO_2 interface, Journal of Physics

書誌事項

タイトル
First-principles study on electronic structures and dielectric properties of Si/SiO_2 interface, Journal of Physics
著者
Tomoya Ono, Katsuhiro Kutsuki, Yoshiyuki Egami, Heiji Watanabe, and Kikuji Hirose

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010282257407381763
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

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