Quantitative Understanding of VAE as a Non-linearly Scaled Isometric Embedding

オープンアクセス

書誌事項

タイトル
Quantitative Understanding of VAE as a Non-linearly Scaled Isometric Embedding
著者
Akira Nakagawa, Keizo Kato, Taiji Suzuki

収録刊行物

関連プロジェクト

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1010294643606400262
  • 資料種別
    journal article
  • データソース種別
    • KAKEN

問題の指摘

ページトップへ