高速高分解能マッピングによる蓄電固体界面のオペランド解析
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- 麻生 亮太郎
- 研究代表者
- 九州大学
研究課題情報
- 体系的番号
- JP22H04620
- 助成事業
- 科学研究費助成事業
- 資金配分機関情報
- 日本学術振興会(JSPS)
- 研究課題/領域番号
- 22H04620
- 研究種目
- 新学術領域研究(研究領域提案型)
- 配分区分
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- 補助金
- 審査区分/研究分野
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- 理工系
- 研究機関
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- 九州大学
- 研究期間 (年度)
- 2022-04-01 〜 2024-03-31
- 研究課題ステータス
- 交付
- 配分額*注記
- 5,200,000 円 (直接経費: 4,000,000 円 間接経費: 1,200,000 円)
研究概要
本研究では、高速高分解能観測に特化した最先端電子顕微鏡法を用いることにより、実動作中の蓄電固体界面の局所的なイオンダイナミクス現象をリアルタイムかつナノスケールで解明することを目的とする。高度計測環境として、高速高分解能STEM画像取得条件の探索、ダメージレス観察条件の探索を実施することで、蓄電固体界面解析のための電圧印加オペランド観察技術を確立する。さらに、組成分析と電子状態分析の高速化を実現し、電場情報は原子分解能で解明する。従来の電子顕微鏡観察では到達できなかった蓄電固体界面の動的現象を直接反映させた理想的な高度計測を実現する。