本研究の概要は、環境制御した最先端電子顕微鏡法を用いることにより蓄電固体界面の局所的な構造変化をナノスケールで解明することである。高度計測環境として、照射電子線制御、観測雰囲気制御、温度制御を実施することで、蓄電固体材料本来の構造・現象を反映させた理想的な高度計測を実現する。微小電流測定による照射電子線の影響の評価、ならびに観測雰囲気依存性の評価を実施し、蓄電固体界面における物理化学状態の変調、特にイオンの移動に起因する界面近傍における構造変化を明らかにし、界面イオンダイナミクスに及ぼす影響を解明する研究である。
