環境制御した電子顕微鏡法による蓄電固体界面の局所構造解析

研究課題情報

体系的番号
JP20H05295
助成事業
科学研究費助成事業
資金配分機関情報
日本学術振興会(JSPS)
研究課題/領域番号
20H05295
研究種目
新学術領域研究(研究領域提案型)
配分区分
  • 補助金
審査区分/研究分野
  • 理工系
研究機関
  • 九州大学
研究期間 (年度)
2020-04-01 〜 2022-03-31
研究課題ステータス
完了
配分額*注記
6,760,000 円 (直接経費: 5,200,000 円 間接経費: 1,560,000 円)

研究概要

本研究の概要は、環境制御した最先端電子顕微鏡法を用いることにより蓄電固体界面の局所的な構造変化をナノスケールで解明することである。高度計測環境として、照射電子線制御、観測雰囲気制御、温度制御を実施することで、蓄電固体材料本来の構造・現象を反映させた理想的な高度計測を実現する。微小電流測定による照射電子線の影響の評価、ならびに観測雰囲気依存性の評価を実施し、蓄電固体界面における物理化学状態の変調、特にイオンの移動に起因する界面近傍における構造変化を明らかにし、界面イオンダイナミクスに及ぼす影響を解明する研究である。

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