Theoretical predictions of particle yields after muon capture reactions for evaluations of soft-error upsets in memory devices

KAKEN

About This Project

Japan Grant Number
JP23K03426 (JGN)
Funding Program
Grants-in-Aid for Scientific Research
Funding Organization
Japan Society for the Promotion of Science

Kakenhi Information

Project/Area Number
23K03426
Research Category
Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
Allocation Type
  • Multi-year Fund
Review Section / Research Field
  • Basic Section 15010:Theoretical studies related to particle-, nuclear-, cosmic ray and astro-physics
Research Institution
  • Kyushu University
Project Period (FY)
2023-04-01 〜 2026-03-31
Project Status
Granted
Budget Amount*help
2,730,000 Yen (Direct Cost: 2,100,000 Yen Indirect Cost: 630,000 Yen)

Research Abstract

半導体の集積度が高まるほど深刻な影響を及ぼしているミュオン起因のソフトエラー問題を、最新の「原子物理」と「原子核物理」を融合させた理論モデルによって解決する。ソフトエラーの原因となっているミュオン捕獲後の荷電粒子の発生量を、この新しい融合理論モデルを用いて高精度に予測し、ソフトエラー発生メカニズムを理解する。最終的には、次世代半導体開発に資するデータと知見を社会に提供する。

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