書誌事項
- タイトル別名
-
- Glass sealed Langmuir probe ニヨル デンシ ミツド
- Measurement of electron density and temperature by means of a glass sealed Langmuir probe
この論文をさがす
説明
通常用いられているDCラングミューアプローブでは電極表面に付着した汚染物質のために正確な情報を得ることができないことはよく知られた事実である。DCプローブを用いて信頼できる電子温度,電子密度をもとめることは,(1)電子温度プローブ,(2)高速掃引の汚染DCプローブ,(3)Glass sealed Langmuir probeの使用によって可能である。これらの方法のうち,(1),(2)の方法については既に発表したので,本論文ではGlass sealed Langmuir probeについて述べる。Glass sealed Langmuir probeは電子温度,電子密度の測定はいうまでもないが,特に熱的電子のenergy分布測定にその効果を発揮すると思われる。
It seems to be a well known fact that ordinary (unclean) Langmuir probe gives erroneous result in the ionosphere study because of the contamination layer of the electrode surface. To get reliable information from Langmuir probe method, three means are considered; (1) the use of electron temperature probe, (2) to sweep the probe bias very quickly (rapid sweep Langmuir probe), (3) the use of glass sealed Langmuir probe. As the first two were already discussed, this paper describes the third method "glass sealed Langmuir probe". It is strongly recommended that glass sealed Langmuir probe should be used for the measurement of electron energy distribution of thermal components. The application of the glass sealed Langmuir probe to the electron density measurement is also discussed.
資料番号: SA0124556000
収録刊行物
-
- 東京大学宇宙航空研究所報告
-
東京大学宇宙航空研究所報告 11 (1_A), 35-45, 1975-01
東京大学宇宙航空研究所
- Tweet
詳細情報 詳細情報について
-
- CRID
- 1050003824961057024
-
- NII論文ID
- 110000196557
-
- NII書誌ID
- AN00161914
-
- ISSN
- 05638100
-
- NDL書誌ID
- 1583228
-
- 本文言語コード
- ja
-
- 資料種別
- departmental bulletin paper
-
- データソース種別
-
- IRDB
- NDL
- CiNii Articles