B-35 メトリクスと不具合の相関(検証・試験・評価,B.ソフトウェア)
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収録刊行物
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- 情報科学技術フォーラム一般講演論文集
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情報科学技術フォーラム一般講演論文集 2002 (1), 157-158, 2002-09-13
FIT(電子情報通信学会・情報処理学会)運営委員会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1050011097120724608
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- NII論文ID
- 110007689607
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- NII書誌ID
- AA11740605
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- Web Site
- http://id.nii.ac.jp/1001/00152869/
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- conference paper
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- データソース種別
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- IRDB
- CiNii Articles