SPACE : 対話型マスク・パターン設計システム : 同電位パターン群抽出手法
書誌事項
- タイトル別名
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- SPACE : Interactive Mask Pattern Design System : Equal Voltage Pattern Trace Method
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説明
対話型マスク・パターン設計システムSPACEではオンライン検証機能として、設計規則チェック、結線チェック、寄生素子チェックなどをサポートしている。これらのチェックにおいて、同電位となるパターン群を抽出する処理が随所で必要となっている。本報告では、同電位パターン群を抽出する手法に関して述べる。
収録刊行物
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- 全国大会講演論文集
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全国大会講演論文集 第38回 (システム), 1763-, 1989-03-15
情報処理学会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1050011097124367488
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- NII書誌ID
- AN00349328
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- conference paper
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- データソース種別
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- IRDB