Evaluation of Small Delay Fault Detection by TDC Embedded in Scan FFs

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  • TDC組込み型スキャンFFの微小遅延故障検出能力評価

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半導体製造技術の向上により，回路の遅延時間がわずかにシフトする微小遅延故障がタイミング不良として顕在化している．微小遅延故障は経年劣化により誤作動の原因となる可能性があるため，微小遅延故障を検出することが求められている．過去に，パスの遅延故障を検出するため，被検査回路内のスキャン FF に TDC (Time - to - Digital Converter) を組込んだ回路が提案されている．本稿では，ISCAS 89 ベンチマーク回路 s5378 に TDCSFF を組込んだ回路の設計を行い，シミュレーションによる遅延検出能力評価を行った．

With improvement of semiconductor manufacturing process, small delay becomes more important cause of timing failures. Small delay faults may cause circuit malfunction due to again deterioration. Therefore, test method for small delay faults is required. We have proposed new scan FF design using TDC (Time - to - Digital Converter) for path delay faults. In this paper, we impleament TDCSFFs in the benchmark circuit with TDCSFF and evaluate its feasibility to detect small delay faults by circuit simulation.

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