Analyst of Compound Semiconductors Bi2 (Te1-ySey)3 System by Means of Semifundamental Parameter Method in the X-Ray Fluorescent Spectrometry
Bibliographic Information
- Other Title
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- <論文>半導体テルル・セレン化ビスマスの螢光X線分析法によるセミ・ファンダメンタル・パラメータ法の解析
- ハンドウタイ テルルセレン カ ビスマス ノ ケイコウ Xセン ブンセキホウ 二 ヨル セミ ファンダメンタル パラメータ ホウ ノ カイセキ
Journal
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- The Review of Osaka University of Economics and Law
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The Review of Osaka University of Economics and Law (34), 23-48, 1988-11-25
大阪経済法科大学経法学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1050013332666202112
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- ISSN
- 02879468
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- Text Lang
- ja
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- Article Type
- departmental bulletin paper
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- Data Source
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- IRDB