書誌事項
- タイトル別名
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- A Novel Test Technique in the SOC Era
- システム LSI ジダイ ニ オケル シン テスト ギジュツ
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抄録
本稿では, システムLSI時代の要素技術となる新たなテスト手法であるCBETテスト手法について議論する.CBETはBISTとATPGをあわせて用いるものであり, テスト時間を大幅に削減する.CBETは外部入出力ピン数の制限を緩和し, テスト時に必要とされるLSIテスタのメモリサイズも削減する.CBETテスト手法の有効性を理論的かつ実験的に示す.さらに, システムLSIを設計するうえで主流となるであろうコア・ベース設計にCBETを適用する.コア・ベースLSIのテスト時間最小化問題を定義し, 効率の良いアルゴリズムを与える.実験において, 既存のテスト手法によるコア・ベースLSIのテスト時間を提案手法は最高97%以上削減した.また, 実験によって得た計算時間は本稿のアルゴリズムが効率の良いものであることを示している.
収録刊行物
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- 情報処理学会論文誌
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情報処理学会論文誌 42 (3), 409-418, 2001-03-15
情報処理学会
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キーワード
詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1050017057726523392
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- NII論文ID
- 110002725681
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- NII書誌ID
- AN00116647
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- ISSN
- 18827764
- 03875806
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- HANDLE
- 2324/7654
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- NDL書誌ID
- 5701781
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- journal article
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- データソース種別
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- IRDB
- NDL
- CiNii Articles
