改良型SEILA(ソフトエラー耐性ラッチ)のα線による耐性評価

情報処理学会

書誌事項

タイトル別名
  • Improved SEILA (Soft Error Immune Latch) Tolerance evaluation by α radiation
公開日
2024-08-21
資源種別
conference paper
公開者
情報処理学会

説明

集積回路の微細化に伴い，信頼性の低下が問題となっている．信頼性低下の一因としてソフトエラーが挙げられる．本研究では，先行研究で提案されているソフトエラー耐性ラッチのソフトエラー耐性評価を行う．その結果をもとに，改良型ラッチとそれを使用した 2 つのフリップフロップを提案する．提案したフリップフロップについてシミュレーションを用いた性能評価と，65nm バルクプロセスで設計したチップを用いたα線照射によるソフトエラー耐性評価を行った．評価結果より，改良型ラッチでは改良前で見られたエラーが 0 となった．提案 FF のエラー発生率は一般的な FF である TGFF と比べて 1/125，1/14732 まで減少し，耐性が向上していることを確認した．

With the miniaturization of integrated circuits, the reliability of integrated circuits has been declining. Soft errors are one of the causes of reliability degradation. In this study, we evaluate the soft-error tolerance of SEILA (Soft Error Immune Latch) in a previous research. Based on the results, we propose an improved latch and two flip-flops that use the improved latch. We evaluate the performance of the proposed flip-flops by circuit simulations and soft-error tolerant evaluation by irradiation of an α source using a chip designed in a 65 nm bulk process. The evaluation results show that the improved latch has no error, which was observed before the improvement. The error rates of the proposed FFs were reduced to 1/125 and 1/14732 compared to TGFF, which is a general FF, confirming the improved tolerance.

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