書誌事項
- タイトル別名
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- デンシ オンドケイ
- Direct Indicator of Electron Temperature
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説明
プラズマ中の電子温度を測定する一つの方法として,正弦波をプラズマに印加し,その直流分の比から電子温度を計算する方法がある.我々はこの正弦波印加の方法を更に一歩すすめ,電流計の指示として直読することを試みた.仮にこれを直読式電子温度計となづける.本回路の試作により,ラングミュアーカーブのこう配から求めるというやっかいな作業なしに電子温度を測定できるようになった.更に我々はこの直読式電子温度計を使って電子温度を測定し,印加したバイアス電圧に従って電子温度がどのように変化するかを検討し,今後の実験室,あるいは電離層中の電子温度測定を精度あるものとするための資料としたい.
Electron temperature can be determined from the measurement of probe current vs probe voltage, which is called Langmuir method. Although this method is fairly simple, it is very laborious work to calculate the electron temperature from the obtained curve. While the electron temperature can be easily measured by means of the (high frequency) probe which is supplied by AC voltage with fairly lower frequency than the plasma frequency of the ambient plasma. This is a modification of the resonance probe. A new device, which can show the electron temperature directly on an indicator by means of the AC probe, is designed and tested. The electron temperature of plasma in the discharge tube was measured by this device, obtaining the relation between the electron temperature and the bias voltage of sounding probe.
資料番号: SA0124992000
収録刊行物
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- 東京大学宇宙航空研究所報告
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東京大学宇宙航空研究所報告 3 (2_A), 322-334, 1967-04
東京大学宇宙航空研究所
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1050285299937931392
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- NII論文ID
- 110000196876
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- NII書誌ID
- AN00161914
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- ISSN
- 05638100
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- NDL書誌ID
- 8330079
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- 本文言語コード
- ja
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- 資料種別
- departmental bulletin paper
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- データソース種別
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- IRDB
- NDL
- CiNii Articles