デジタルテレビや携帯電話，カーナビゲーションシステムに代表される組込みシステムの高機能化・複雑化が進み，開発工数が増加している．一方でメーカ間のシェア競争は激化し，開発コストの削減が望まれている．組込みシステムの障害は，ハードウェアとソフトウェアが複数組み合わさって発生する．そのためタイミングに依存し，再現性が低く障害解析に必要な情報をとるために時間がかかるといった問題や，システム全体を解析対象とするため，トレース結果の解析に時間がかかるといった問題を抱えている．そこで我々は，上記問題を解決するための障害解析環境を提案する．提案環境は再現性の低い障害の解析情報を確実に取得するための長時間トレース機能と，トレース結果の解析効率化を狙うボトルネック解析機能，解析情報理解容易化機能の3機能からなる．この障害解析環境はデジタルビデオカメラの開発から順次6製品に適用され，現在も一部製品開発に適用されている．また，一例としてトレース容量を10MBから190GBへ増加し，障害解析日数を6.09日削減する結果を得た．これらの結果について報告する．

Embedded systems work with a combination of hardware and software. Therefore, the occurrence of a failure depends on the timing, and the reproducibility is low. As a result, there is a problem that it takes time to obtain the information necessary for failure analysis. In addition, the entire system will be analyzed. Thus, there is a problem that it takes time to analyze the trace result. Consequently, we propose a failure analysis environment consisting of three functions to solve the above problem. They have the following three functions. 1) The proposed environment has a long-time trace function to reliably acquire analysis information of failures with low reproducibility. 2) Bottleneck analysis function that aims to improve the analysis efficiency of trace results, 3) Function that facilitates understanding of analysis information. This failure analysis environment has been applied to six products in sequence from the development of the digital video camera series. And above environment is still being applied to some product development. Also, as an example, the trace capacity was increased from 10MB to 190GB, and the failure analysis time was reduced by 6.09 days. We report these results.