Effect of the Halo-Structure on MOSFET Threshold-Voltage Variation
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- しきい値電圧ばらつきに対するハロー構造の影響
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- 電子情報通信学会総合大会講演論文集
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電子情報通信学会総合大会講演論文集 2009年_エレクトロニクス (2), 86-, 2009-03-04
電子情報通信学会
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1050296586506757632
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- NII Article ID
- 110007090330
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- NII Book ID
- AN10471452
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- Text Lang
- ja
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- Article Type
- conference paper
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- Data Source
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- IRDB
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