IDカード表面のレーザスペックルパターンを用いた人工物メトリクス

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  • ID カード ヒョウメン ノ レーザスペックルパターン オ モチイタ ジンコウブツ メトリクス
  • An Artifact-metrics which Utilizes Laser Speckle Patterns for ID Card Surface

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抄録

人工物メトリクスとは，人工物の製造過程に由来する固有の微視的なランダムパターンなどを照合することによって人工物の認証を自動で行う技術である．このランダムパターンは，正当な製造者でさえも複製や意図的なコントロールがきわめて困難とされる．したがって，この特性を利用すれば新種の偽造防止技術としてさまざまなセキュリティ印刷物に応用が可能である．本稿は，カードや紙表面のレーザスペックルパターンを用いた人工物メトリック・システムの実現可能性について検討したものである．物体表面にレーザ光を照射したときに現れるスペックルパターンは，その物体表面の微小構造に対応してそれぞれ異なる．そのため，あらかじめ登録されたデータと比較することによって自動で人工物の認証が可能である．我々のシステムは，頑丈な金属製フレームに固定されたダイオードレーザ，CMOSカメラ，およびパターンを照合するための照合アルゴリズムから構成されている．カメラ入射径を変化させたプラスチックIDカードの照合実験から，データサイズ16×16 (pix)のときにEER＝0.1%を確認した．

Artifact-metrics is an automated method of authenticating artifacts based on measurable intrinsic characteristics like microscopic random-patterns in the manufacturing process. Such attributes, which are very difficult to copy and control even for the legal manufacturer, can be used as a new type of anti-counterfeit technique for various security prints. This paper describes the feasibility of an artifact-metric system which utilizes a laser speckle pattern on the surface of objects like cards and paper. Speckle patterns on a surface differ from each other corresponding on the microscopic geometry of the object. Such patterns can be authenticated automatically by using a matching algorithm to compare the pattern with previously registered data. Our system employees a laser diode and a CMOS camera attached firmly to a rigid metal frame, and a matcher for verifying the patterns. Through our ID cards matching tests changing width of the laser emission and the aperture size of camera, we obtained about 0.1% of EER with matching area of 16×16 pixels.

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