任意形状物体からの散乱電界の振幅成分によるDiffraction Tomography実験
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- ニンイ ケイジョウ ブッタイ カラ ノ サンラン デンカイ ノ シンプク セイ
- Diffraction Tomography Experiment using the Amplitude of Scattered Wave From Arbitrary Shape Object
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Abstract
散乱電界の振幅のみを用いたDiffraction Tomographyにおいて, 任意形状物体の再構成が可能であることを実験的に示した.
Journal
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- 電子情報通信学会論文誌. B-II, 通信II
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電子情報通信学会論文誌. B-II, 通信II J80-B-II (8), 739-741, 1997-08
電子情報通信学会
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Keywords
Details 詳細情報について
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- CRID
- 1050564289187231744
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- NII Article ID
- 120006740549
- 110003280841
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- NII Book ID
- AN10071159
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- ISSN
- 09151885
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- HANDLE
- 10191/8271
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- NDL BIB ID
- 4284756
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- Text Lang
- ja
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- Article Type
- journal article
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- Data Source
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- IRDB
- NDL
- CiNii Articles