プロセスコーナーモデルとBTIばらつきを考慮したタイミング解析手法

情報処理学会

書誌事項

タイトル別名
  • Timing Analysis Considering Process Corner Model and BTI Variability

説明

微細プロセスの大規模集積回路の設計においては初期特性ばらつきに加えて BTI ばらつきを考慮しなければならない．これらの分布をシミュレーションするためには膨大な計算が必要となってしまうため，計算を高速化した解析手法が求められている．本稿では初期特性ばらつきと BTI ばらつきの分布を加算することで，長期劣化予測の統計的解析結果を得る手法を提案する．提案手法によって 45 nm バルクプロセスインバータの遅延ばらつきを解析したところ，10 8 s の使用期間で遅延が 20%以上増加することが分かった．

Both process variations and BTI variabilities are should be considered by the LSI designers. However, a huge amount of time is needed to simulate those variations. Therefore, the fast simulation methodology is required. In this study, we propose the methodology of the statistical timing analysis considering those variations. The delay degradation of a 45 nm bulk process inverter is 20% for a 10 8 s period of use.

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