Strong Electron Outflow and its Influence on the Downstream Structure of the Electron Dissipation Region in the Steady Collisionless Driven Reconnection

詳細情報 詳細情報について

• CRID

  1050845762413709824

• ISSN

  09171185

• HANDLE

  10655/5054

• Web Site

  https://nifs-repository.repo.nii.ac.jp/records/6630

• 本文言語コード

  en

• 資料種別

  departmental bulletin paper

• データソース種別

  • IRDB