In-situ Observation of Atomic-Scale Defect Evolutions in Pure Al and Al-Cu Alloys by Spherical Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy
書誌事項
- タイトル
- In-situ Observation of Atomic-Scale Defect Evolutions in Pure Al and Al-Cu Alloys by Spherical Aberration-Corrected Transmission Electron Microscopy
- タイトル別名
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- 原子分解能その場電子線照射観察による純AlとAl-Cu合金中の格子欠陥挙動に関する研究
- 著者
- Chen, Jiao
- 学位授与大学
- Tohoku University
- 取得学位
- 博士(工学)
- 学位授与番号
- 甲第20373号
- 学位授与年月日
- 2022-03-25
説明
type:博士学位論文 (Thesis(doctor))
課程
博士学位論文 (Thesis(doctor))
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1110577155783300608
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- NII論文ID
- 500001531134
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- 本文言語コード
- en
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- データソース種別
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- CiNii Dissertations