書誌事項
- タイトル
- "Diagnostic electron microscopy"
- 責任表示
- edited by Benjamin F. Trump, Raymond T. Jones
- 出版者
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- Wiley
- 出版年月
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- c1978-c1983
- 書籍サイズ
- 27 cm
- シリーズ名/番号
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- v. 1
- v. 2
- v. 3
- v. 4
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注記
Includes bibliographical references and indexes
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000793694272384
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- NII書誌ID
- BA00334065
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- ISBN
- 0471891959
- 0471891967
- 0471051500
- 0471051497
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- LCCN
- 77012817
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/77012817
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- New York
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- 件名
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- データソース種別
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- CiNii Books