Developments in integrated circuit testing
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "Developments in integrated circuit testing"
- 責任表示
- D.M. Miller, editor
- 出版者
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- Academic Press
- 出版年月
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- 1987
- 書籍サイズ
- 24 cm
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注記
Includes bibliography and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000793803309568
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- NII書誌ID
- BA03599000
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- ISBN
- 0124967353
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- uk
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- London
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- 分類
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- LCC: TK7874
- DC19: 621.381/71
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- データソース種別
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- CiNii Books