Electron microscopy of semiconducting materials and ULSI devices : symposium held Aprl 15-16, 1998, San Francisco, California, U. S. A.
書誌事項
- タイトル
- "Electron microscopy of semiconducting materials and ULSI devices : symposium held Aprl 15-16, 1998, San Francisco, California, U. S. A."
- 責任表示
- editors, Clive Hayzelden, Crispin Hetherington, Frances Ross
- 出版者
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- Materials Research Society
- 出版年月
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- 1998
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注記
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000793810189440
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- NII書誌ID
- BA37860961
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- ISBN
- 1558994297
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- LCCN
- 98028503
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/98028503
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Warrendale, Pa.
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- 分類
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- LCC: TK7874.76
- DC21: 621.3815/2
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- データソース種別
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- CiNii Books