マイクロ波-レーザ計測技術の開発とシリコンウェーハの局所的導電率の非接触計測
CiNii
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Bibliographic Information
- Title
- "マイクロ波-レーザ計測技術の開発とシリコンウェーハの局所的導電率の非接触計測"
- Statement of Responsibility
- 研究代表者 巨陽
- Publisher
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- [巨陽]
- Publication Year
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- 2003.3
- Book size
- 30cm
- Other Title
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- マイクロハ レーザ ケイソク ギジュツ ノ カイハツ ト シリコンウェーハ ノ キョクショテキ ドウデンリツ ノ ヒセッショク ケイソク
- 平成13年度~平成14年度科学研究費補助金(基盤研究(B)(2))研究成果報告書
- Development of a microwave-Laser measurement technique and contactless measurement of conductivity of silicon wafer in an infinitesimal area
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Notes
課題番号: 13555192
研究代表者 巨陽(東北大学大学院工学研究科 助手)
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Details 詳細情報について
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- CRID
- 1130000793840968960
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- NII Book ID
- BB10405655
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- Country Code
- ja
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- Title Language Code
- ja
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- Place of Publication
-
- [仙台]
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- Data Source
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- CiNii Books