Advanced sensor technologies for nondestructive evaluation and structural health monitoring : 8-10 March 2005, San Diego, California, USA

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書誌事項

タイトル
"Advanced sensor technologies for nondestructive evaluation and structural health monitoring : 8-10 March 2005, San Diego, California, USA"
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Norbert Meyendorf, George Y. Baaklini, Bernd Michel, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c2005
書籍サイズ
28 cm

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