Soft X-ray microscopy : 19-21 July 1992, San Diego, California

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書誌事項

タイトル
"Soft X-ray microscopy : 19-21 July 1992, San Diego, California"
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Chris J. Jacobsen, James E. Trebes, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE--the International Society for Optical Engineering
出版者
  • SPIE
出版年月
  • c1993
書籍サイズ
28 cm
シリーズ名/番号
  • : pbk

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詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000794011292672
  • NII書誌ID
    BA21152849
  • ISBN
    0819409146
  • LCCN
    92085058
  • Web Site
    https://lccn.loc.gov/92085058
  • 本文言語コード
    en
  • 出版国コード
    us
  • タイトル言語コード
    en
  • 出版地
    • Bellingham, Wash., USA
  • データソース種別
    • CiNii Books
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