Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies
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書誌事項
- タイトル
- "Reliability wearout mechanisms in advanced CMOS technologies"
- 責任表示
- Alvin W. Strong ... [et al.]
- 出版者
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- IEEE Press
- John Wiley
- 出版年月
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- c2009
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
"IEEE Solid-State Circuits Society, sponsor."
Includes bibliographical references and index
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794418795520
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- NII書誌ID
- BA91540128
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- ISBN
- 9780471731726
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- Piscataway, N.J.
- Hoboken, N.J.
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- 分類
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- DC22: 621.39732
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- データソース種別
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- CiNii Books