単電子デバイス用ナノスケールシリコン量子細線の機械的特性評価技術の開発
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "単電子デバイス用ナノスケールシリコン量子細線の機械的特性評価技術の開発"
- 責任表示
- 研究代表者 磯野吉正
- 出版者
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- [磯野吉正]
- 出版年月
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- 2004.5
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- タンデンシ デバイスヨウ ナノ スケール シリコン リョウシ サイセン ノ キカイテキ トクセイ ヒョウカ ギジュツ ノ カイハツ
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注記
課題番号: 13555030
参考文献: p111-114
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794566277632
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- NII書誌ID
- BA68756159
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- 本文言語コード
- ja
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- 出版国コード
- xx
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- [出版地不明]
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- データソース種別
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- CiNii Books