書誌事項
- タイトル
- "Test economics and design for testability for electronic circuits and systems"
- 責任表示
- C. Dislis ... [et al.]
- 出版者
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- Ellis Horwood
- 出版年月
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- 1995
- 書籍サイズ
- 25 cm
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注記
Bibliographical references: p. [195]-202
Includes index
入力は遡及データによる
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794735408000
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- NII書誌ID
- BA28009978
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- ISBN
- 0131089943
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- LCCN
- 94030448
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- Web Site
- https://lccn.loc.gov/94030448
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- 本文言語コード
- en
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- 出版国コード
- us
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- タイトル言語コード
- en
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- 出版地
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- New York
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- 分類
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- LCC: TK7867
- DC20: 621.3815/48
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- データソース種別
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- CiNii Books