走査電子顕微鏡試験方法通則
CiNii
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書誌事項
- タイトル
- "走査電子顕微鏡試験方法通則"
- 出版者
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- 日本規格協会
- 出版年月
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- 1997.10
- 書籍サイズ
- 30cm
- タイトル別名
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- ソウサ デンシ ケンビキョウ シケン ホウホウ ツウソク
- General rules for scanning electron microscopy
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注記
主務大臣:通商産業大臣
制定:平成9.9.20
原案作成協力者:社団法人日本分析機器工業会
審議部会:日本工業標準調査会基本部会
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詳細情報 詳細情報について
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- CRID
- 1130000794749682432
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- NII書誌ID
- BA71872475
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- 本文言語コード
- ja
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- 出版国コード
- ja
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- タイトル言語コード
- ja
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- 出版地
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- 東京
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- データソース種別
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- CiNii Books