走査電子顕微鏡試験方法通則

CiNii 所蔵館 1館

書誌事項

タイトル
"走査電子顕微鏡試験方法通則"
出版者
  • 日本規格協会
出版年月
  • 1997.10
書籍サイズ
30cm
タイトル別名
  • ソウサ デンシ ケンビキョウ シケン ホウホウ ツウソク
  • General rules for scanning electron microscopy

この図書・雑誌をさがす

注記

主務大臣:通商産業大臣

制定:平成9.9.20

原案作成協力者:社団法人日本分析機器工業会

審議部会:日本工業標準調査会基本部会

関連図書・雑誌

もっと見る

詳細情報 詳細情報について

  • CRID
    1130000794749682432
  • NII書誌ID
    BA71872475
  • 本文言語コード
    ja
  • 出版国コード
    ja
  • タイトル言語コード
    ja
  • 出版地
    • 東京
  • データソース種別
    • CiNii Books
ページトップへ